Мультиядерный цифровой ЯМР-спектрометр DPX 400 (Bruker, Германия )
Область применения:
Предназначен для изучения состава, строения, стереодинамического и химического поведения сложных синтетических и природных органических и элементоорганических соединений и их смесей в растворах.
Технические данные:
Рабочая частота 400 мГц, оборудован следующими
5 ммдатчиками:
— двойной датчик 1Н, 13C;
— широкополосный датчик 31Р-15N;
— инверсионный датчик 31З1109 Аg;
— температурные и твердотельные приставки.
Импульсный ЭПР спектрометр
с Фурье-преобразованием 580 FT/CW (Bruker, Германия )
Область применения:
— изучение строения и свойств различных парамагнитных центров в синтетических и природных нано- и микрообъектах;
— изучение механизмов радикальных реакций;
— исследование микроскопического окружения неспаренного электрона, молекулярного движения, фазовых переходов.
Основные характеристики:
— диапазон частот: 9—10 ГГц (Х-band);
— магнитное поле —3000 G;
— абсолютная чувствительность — 1,2 × 1010 сп/G;
— температурный режим от 4 К до 500 К;
— режимы: непрерывный и импульсный.
Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 VENTURE (Bruker, Германия)
Область применения:
Расчёт параметров кристаллических решёток, поиск фаз, деформационных напряжений, величины кристаллитов в порошке вещества, атомного строения вещества, структурных распределённых деформаций.
Технические характеристики:
Метод съёмки — Брэгг-Брентано.
Точность установки углов — 0,005°.
Режим съёмки — пошаговый или непрерывный.
Режим работы трубки — 40 кВ, 40 µА.
Температурная приставка способна поддерживать любую температуру кристалла в интервале 100 – 700 K.
Рентгеновский дифрактометр D2PHASER (Bruker, Германия)
Область применения:
Поиск фаз в природных объектах, анализ поликристаллических материалов и контроль качества химических, фармацевтических, геологических и других образцов.
Технические характеристики:
— качественный и количественный анализ кристаллических фаз;
— структурный анализ;
— определение размеров кристаллов;
— определение угла разориентации между кристаллами;
— текстурный анализ;
— исследование остаточных напряжений.
Масс-спектрометр ultrafeXtreme (Bruker, Германия)
Область применения:
Анализ биологических и синтетических полимеров.
Основные характеристики:
— тандемный TOF/TOF масс-спектрометр, формат
384 образца. Твердотельный лазер 1 кГц с ресурсом 109 лазера и фокусировкой луча;
— самоочищающийся лазерный источник ионов
MALDI Perpetual;
— точность определения масс до 40 000 с точностью 1 ppm с высочайшей достоверностью.
Хроматомасс-спектрометр Agilent 5975 (Agilent, Германия)
Область применения:
Анализ органических и элементоорганических соединений, в том числе анализ загрязнения окружающей среды и определения следовых количеств (на уровне 10−12
г и ниже) высокотоксичных соединений в окружающей среде, пищевых продуктах
и организме человека и животных.
Технические данные:
Квадрупольный газовый хромато-масс-спектрометр обеспечивает три вида ионизации:
— электронный удар — генератор классического масс-спектра;
— положительная ионизация для точного определения молекулярной массы;
— отрицательная ионизация для высокочувствительного определения электрофильных компонентов;
— опция для анализа твёрдых проб;
— диапазон измеряемых масс от 1,5 до 850 Да.
ИК Фурье-спектрометр Vertex 70 с Раман-приставкой (Bruker, Германия)
Область применения:
Неразрушающий метод исследования нанообъектов, органических и лементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.
Технические данные:
— спектральный диапазон: 7500—50 см-1;
— разрешение: 0,5 см−1;
— точность волнового числа: 0,01 см−1;
— фотометрическая точность: 0,1 % Т.
ИК Фурье-спектрометр 3100 FT IR (Varian, США)
Область применения:
Неразрушающий метод исследования нанообъектов, органических и лементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.
Технические данные:
— спектральный диапазон: 7500—50 см-1;
— разрешение: 0,5 см−1;
— точность волнового числа: 0,01 см−1;
— фотометрическая точность: 0,1 % Т.
Электронный микроскоп ТМ3000 (Hitachi, Япония)
Основные технические характеристики:
— ускоряющее напряжение: 5, 15 кВ;
— увеличение: ×15—30 000;
— разрешение: 30 нм;
— режимы исследования: стандартный высоковакуумный и режим снятия зарядки с образца (низковакуумный режим);
— диапазон определяемых элементов — от B (5) до U (92).
Элементный анализатор Flash EA 1112 СHNS- O/MAS 200
Область применения:
Элементный анализ органических и элементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.
Технические данные:
— масса пробы: 0,01—100 м;
— диапазон измерения: 100 ррт — 100 %;
— время анализа: CHN — 8 минут; CHNS — 10 минут.
УФ/ВИД - Спектрометр LAMBDA 35 (PerkinElmer, США)
Область применения:
Технические данные:
Область длин волн: 190 – 1100 нм
Рассеянный свет: <<0.01%T при 220, 340 и 370 нм
Точность установки длины волны: ±0.1 нм, пик D2 при 656.1 нм
Воспроизводимость установки длины волны: ±0.05 нм, пик D2 при 656.1 нм
Спектральная ширина щели: переменная 0.5, 1, 2 или 4 нм
